痕量硅的导数脉冲极谱测定

	痕量硅的导数脉冲极谱测定
	王梦霞 ; 汪尔康
刊名	冶金分析
	1983
期号	2 页码:70-74
关键词	脉冲极谱测定杂多酸痕量硅导数
ISSN号	1000-7571
中文摘要	硅是非极谱活性物,用极谱法直接测定硅是不可能的,但钼酸根与硅酸能形成极谱活性的硅钼杂多酸。Fogg等提出了甲基乙基酮存在下形成的硅钼杂多酸络离子,在柠檬酸溶液中,于滴汞电极上,分别在-0.35伏和-0.50伏(对饱和甘汞电极)产生两个导数脉冲极谱峰,第一峰可用于硅的定量测定。
收录类别	CSCD收录国内期刊论文
语种	中文
公开日期	2012-06-15
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/46945]
专题	长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	王梦霞,汪尔康. 痕量硅的导数脉冲极谱测定[J]. 冶金分析,1983(2):70-74.
APA	王梦霞,&汪尔康.(1983).痕量硅的导数脉冲极谱测定.冶金分析(2),70-74.
MLA	王梦霞,et al."痕量硅的导数脉冲极谱测定".冶金分析 .2(1983):70-74.