IPMC材料的性能稳定性及封装工艺研究 | |
罗斌; 朱子才; 王永泉; 常龙飞; 陈花玲 | |
刊名 | 功能材料 |
2012 | |
期号 | [db:dc_citation_issue]页码:961-964 |
关键词 | 封装工艺 稳定性 离子聚合物材料 松弛效应 |
ISSN号 | 1001-9731 |
DOI | [db:dc_identifier_doi] |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | [db:dc_identifier_wosid] |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4460287 |
专题 | 西安交通大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 罗斌,朱子才,王永泉,等. IPMC材料的性能稳定性及封装工艺研究[J]. 功能材料,2012([db:dc_citation_issue]):961-964. |
APA | 罗斌,朱子才,王永泉,常龙飞,&陈花玲.(2012).IPMC材料的性能稳定性及封装工艺研究.功能材料([db:dc_citation_issue]),961-964. |
MLA | 罗斌,et al."IPMC材料的性能稳定性及封装工艺研究".功能材料 .[db:dc_citation_issue](2012):961-964. |
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