CORC  > 大连理工大学
High Temperature Reliability and Failure of W-based Microhotplates
Zhou, Junwei; Yu, Jun; Li, Zhongzhou; Liu, Kaiqiang; Tang, Zhenan
2015
会议名称2015 IEEE SENSORS
会议日期2015-11-01
关键词W-based microhotplate (MHP) reliability failure high temperature
页码1347-1350
会议录2015 IEEE SENSORS
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内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4408571
专题大连理工大学
作者单位Dalian Univ Technol, Liaoning IC Technol Key Lab, Sch Elect Sci & Technol, Dalian, Liaoning, Peoples R China.
推荐引用方式
GB/T 7714
Zhou, Junwei,Yu, Jun,Li, Zhongzhou,et al. High Temperature Reliability and Failure of W-based Microhotplates[C]. 见:2015 IEEE SENSORS. 2015-11-01.
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