CORC  > 大连理工大学
微纳器件中近场热辐射现象的特性分析
冯冲; 唐祯安; 余隽; 张俊星; 马彪; 施展
2016
会议名称第十四届全国敏感元件与传感器学术会议论文集中国仪器仪表学会;中国电子学会;中国航空学会;中国生物工程学会
会议日期2016-10-14
会议地点成都
关键词微纳器件 二氧化硅 悬空薄膜结构 近场热辐射
页码125-129
会议录第十四届全国敏感元件与传感器学术会议论文集中国仪器仪表学会 ; 中国电子学会 ; 中国航空学会 ; 中国生物工程学会
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内容类型会议论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4373405
专题大连理工大学
作者单位1.大连民族大学,辽宁大连116600
2.大连理工大学,辽宁大连116024
推荐引用方式
GB/T 7714
冯冲,唐祯安,余隽,等. 微纳器件中近场热辐射现象的特性分析[C]. 见:第十四届全国敏感元件与传感器学术会议论文集中国仪器仪表学会;中国电子学会;中国航空学会;中国生物工程学会. 成都. 2016-10-14.
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