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	静电放电对无绳电话充电接触失效的影响
	唐振方[1]; 叶勤[1]; 刘欣[1]; 彭舒[1]
	2006
期号	3页码:15
关键词	静电放电 充电接触 电弧侵蚀 碳沉积 失效机理
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4316578
专题	暨南大学
作者单位	[1]暨南大学物理系,广东广州510632
推荐引用方式 GB/T 7714	唐振方[1],叶勤[1],刘欣[1],等. 静电放电对无绳电话充电接触失效的影响[J],2006(3):15.
APA	唐振方[1],叶勤[1],刘欣[1],&彭舒[1].(2006).静电放电对无绳电话充电接触失效的影响.(3),15.
MLA	唐振方[1],et al."静电放电对无绳电话充电接触失效的影响"..3(2006):15.

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