静电放电对无绳电话充电接触失效的影响 | |
唐振方[1]; 叶勤[1]; 刘欣[1]; 彭舒[1] | |
2006 | |
期号 | 3页码:15 |
关键词 | 静电放电 充电接触 电弧侵蚀 碳沉积 失效机理 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4316578 |
专题 | 暨南大学 |
作者单位 | [1]暨南大学物理系,广东广州510632 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐振方[1],叶勤[1],刘欣[1],等. 静电放电对无绳电话充电接触失效的影响[J],2006(3):15. |
APA | 唐振方[1],叶勤[1],刘欣[1],&彭舒[1].(2006).静电放电对无绳电话充电接触失效的影响.(3),15. |
MLA | 唐振方[1],et al."静电放电对无绳电话充电接触失效的影响"..3(2006):15. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论