无失效数据的MEMS传感器可靠性分析 | |
佐磊; 孙洪凯; 何怡刚; 尹柏强; 胡小敏 | |
刊名 | 电子测量与仪器学报 |
2019 | |
期号 | 06 |
关键词 | Bayes 可靠性 无失效数据 失效率 MEMS传感器 |
ISSN号 | 1000-7105 |
DOI | 10.13382/j.jemi.B1901966 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | CNKI |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4247235 |
专题 | 武汉大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 佐磊,孙洪凯,何怡刚,等. 无失效数据的MEMS传感器可靠性分析[J]. 电子测量与仪器学报,2019(06). |
APA | 佐磊,孙洪凯,何怡刚,尹柏强,&胡小敏.(2019).无失效数据的MEMS传感器可靠性分析.电子测量与仪器学报(06). |
MLA | 佐磊,et al."无失效数据的MEMS传感器可靠性分析".电子测量与仪器学报 .06(2019). |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论