红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向

	红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向
	孙国恩 ; 滕红 ; 张春玲 ; 窦艳丽 ; 徐经伟
刊名	分析化学
	2010
卷号	38 期号:8 页码:1182-1185
关键词	红外光谱线阵列检测聚合物分散液晶分子取向
ISSN号	0253-3820
通讯作者	窦艳丽
中文摘要	采用偏振红外光谱和变温红外光谱研究聚合物分散液晶膜中液晶分子取向随外加电场及温度的变化。利用线阵列检测技术表征了聚合物与液晶界面处的成分分布。结果表明,线阵列检测技术能够快速而直观地给出成分分布图,通过该成分分布图可以解释PDLC在温度场作用下分子取向的变化。
收录类别	CSCD收录国内期刊论文
语种	中文
公开日期	2012-06-07
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/44098]
专题	长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	孙国恩,滕红,张春玲,等. 红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向[J]. 分析化学,2010,38(8):1182-1185.
APA	孙国恩,滕红,张春玲,窦艳丽,&徐经伟.(2010).红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向.分析化学,38(8),1182-1185.
MLA	孙国恩,et al."红外光谱结合线阵列检测技术研究聚合物分散液晶膜分子取向".分析化学 38.8(2010):1182-1185.