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	Vacancy defects and optoelectrical properties for fluorine tin oxide thin films with various SnF2 contents (vol 123, 025706, 2018)
	Zhou, Yawei; Xu, Wenwu; Li, Jingjing; Yin, Chongshan; Liu, Yong; Zhao, Bin; Chen, Zhiquan; He, Chunqing; Mao, Wenfeng; Ito, Kenji
	2019
ISSN号	0021-8979
URL标识	查看原文
语种	英语
出处	JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
DOI标识	10.1063/1.5110975
卷号	125
收录类别	SCIE
期号	23
内容类型	其他
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4215746
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhou, Yawei,Xu, Wenwu,Li, Jingjing,et al. Vacancy defects and optoelectrical properties for fluorine tin oxide thin films with various SnF2 contents (vol 123, 025706, 2018). 2019-01-01.

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