| 插层化合物2H-Fe0.5TaSe2的穆斯堡尔谱研究 | |
| 陈义龙; 冯先意; 欧阳渤忠; 徐斌富; 王采林 | |
| 刊名 | 核技术
 |
| 1992 | |
| 期号 | 08 |
| 关键词 | 插层化合物 有效质量 特征温度 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4174530 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈义龙,冯先意,欧阳渤忠,等. 插层化合物2H-Fe0.5TaSe2的穆斯堡尔谱研究[J]. 核技术,1992(08). |
| APA | 陈义龙,冯先意,欧阳渤忠,徐斌富,&王采林.(1992).插层化合物2H-Fe0.5TaSe2的穆斯堡尔谱研究.核技术(08). |
| MLA | 陈义龙,et al."插层化合物2H-Fe0.5TaSe2的穆斯堡尔谱研究".核技术 .08(1992). |
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