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	Analog Circuit Fault Diagnosis via Joint Cross-Wavelet Singular Entropy and Parametric t-SNE
	He, Wei; He, Yigang; Li, Bing; Zhang, Chaolong
刊名	ENTROPY
	2018
卷号	20期号:8
关键词	analog circuit fault diagnosis cross wavelet transform Tsallis entropy parametric t-distributed stochastic neighbor embedding support vector machine
ISSN号	1099-4300
DOI	10.3390/e20080604
URL标识	查看原文
收录类别	SCIE
语种	英语
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4156425
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	He, Wei,He, Yigang,Li, Bing,et al. Analog Circuit Fault Diagnosis via Joint Cross-Wavelet Singular Entropy and Parametric t-SNE[J]. ENTROPY,2018,20(8).
APA	He, Wei,He, Yigang,Li, Bing,&Zhang, Chaolong.(2018).Analog Circuit Fault Diagnosis via Joint Cross-Wavelet Singular Entropy and Parametric t-SNE.ENTROPY,20(8).
MLA	He, Wei,et al."Analog Circuit Fault Diagnosis via Joint Cross-Wavelet Singular Entropy and Parametric t-SNE".ENTROPY 20.8(2018).

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