碳化硅表面改性对固体绝缘介质表面电荷聚散特性的影响研究 | |
凌超; 唐炬; 潘成; 王邸博; 卓然; 傅明利 | |
刊名 | 绝缘材料 |
2018 | |
期号 | 09 |
关键词 | 表面电荷 电荷积聚 电荷消散 碳化硅涂料 静电探头法 |
ISSN号 | 1009-9239 |
DOI | 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2018.09.007 |
URL标识 | 查看原文 |
收录类别 | CNKI |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4138489 |
专题 | 武汉大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 凌超,唐炬,潘成,等. 碳化硅表面改性对固体绝缘介质表面电荷聚散特性的影响研究[J]. 绝缘材料,2018(09). |
APA | 凌超,唐炬,潘成,王邸博,卓然,&傅明利.(2018).碳化硅表面改性对固体绝缘介质表面电荷聚散特性的影响研究.绝缘材料(09). |
MLA | 凌超,et al."碳化硅表面改性对固体绝缘介质表面电荷聚散特性的影响研究".绝缘材料 .09(2018). |
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