| 电离层随机变化对OTH雷达坐标配准的影响 | |
| 周晨; 赵正予 | |
| 刊名 | 电波科学学报
 |
| 2008 | |
| 卷号 | 23期号:5 |
| 关键词 | 射线追踪 统计电离层模型 极大似然估计 统计再抽样 |
| ISSN号 | 1005-0388 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CSCD ; EI ; CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4083418 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周晨,赵正予. 电离层随机变化对OTH雷达坐标配准的影响[J]. 电波科学学报,2008,23(5). |
| APA | 周晨,&赵正予.(2008).电离层随机变化对OTH雷达坐标配准的影响.电波科学学报,23(5). |
| MLA | 周晨,et al."电离层随机变化对OTH雷达坐标配准的影响".电波科学学报 23.5(2008). |
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