| 正电子湮没寿命测量统计精度研究 | |
| 李楠; 祁宁; 陈志权; 王波 | |
| 刊名 | 核技术
 |
| 2018 | |
| 期号 | 1 |
| 关键词 | 正电子寿命 时间分辨率 标准偏差 统计精度 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4080487 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李楠,祁宁,陈志权,等. 正电子湮没寿命测量统计精度研究[J]. 核技术,2018(1). |
| APA | 李楠,祁宁,陈志权,&王波.(2018).正电子湮没寿命测量统计精度研究.核技术(1). |
| MLA | 李楠,et al."正电子湮没寿命测量统计精度研究".核技术 .1(2018). |
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