| CuO纳米线中的取向畴 | |
| 曹凡; 贾双凤; 刘曦; 刘宇峰; 郑赫; 王建波 | |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 2017 | |
| 期号 | 3 |
| 关键词 | CuO纳米线 取向畴 群论 电子显微学 |
| ISSN号 | 1000-6281 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4070990 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹凡,贾双凤,刘曦,等. CuO纳米线中的取向畴[J]. 电子显微学报,2017(3). |
| APA | 曹凡,贾双凤,刘曦,刘宇峰,郑赫,&王建波.(2017).CuO纳米线中的取向畴.电子显微学报(3). |
| MLA | 曹凡,et al."CuO纳米线中的取向畴".电子显微学报 .3(2017). |
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