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强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究
弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼
刊名光谱学与光谱分析
1997-06-25
期号3页码:65-69
关键词强短脉冲供电 辉光放电 发射光谱 铜基合金
中文摘要文中所述的研究用实验室组装的强短脉冲供电辉光放电发射光谱(HCMSPGD-OES)实验系统,对铜基合金中的次要组分Ni、Al、Mn、Si的含量进行了测定。辉光放电(GD)源在强短脉冲供电(HCMSP)时,原子线和离子线的发射得到增强。文中选用了Ni、Al、Mn、Si的次灵敏线作分析线,对影响分析线强度的因素进行了研究,在选定的实验条件下对几种组分的含量进行了测定,测定结果与样品的推荐值吻合较好。六次测定的相对标准偏差为Ni2.66%,Al1.00%,Mn2.17%,Si6.02%
公开日期2012-04-12
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27852]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
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GB/T 7714
弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼. 强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究[J]. 光谱学与光谱分析,1997(3):65-69.
APA 弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼.(1997).强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究.光谱学与光谱分析(3),65-69.
MLA 弓振斌,周振杨,王小如,黄本立,任建世,马洪波,陈明,张功杼."强短脉冲供电辉光放电发射光谱法测定铜基合金组分的研究".光谱学与光谱分析 .3(1997):65-69.
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