ICP-MS分析技术及干扰问题

CORC > 金属研究所 > 中国科学院金属研究所

	ICP-MS分析技术及干扰问题
	孙靖,沈怡文
刊名	理化检验(化学分册)
	1998-07-15
期号	7 页码:318-319
关键词	ICP-MS:6432 基体效应:5799 化学分析技术:3250 等离子体离子源:2529 质谱仪:1595 被分析物:1426 谱线干扰:1114 基体元素:907 分子离子:840 同位素稀释法:820
中文摘要	<正>1 ICP-MS分析技术介绍 1975年Gray A L成功地从直流等离子体中抽取离子,通过针孔大小的样品孔进入抽成真空的离子导入系统通往四极质谱仪。这就是ICP-MS仪的最初模型,人们很快认识了等离子体作为离子源的优点,ICP-MS近几年得到快速发展,已广泛应用于很多领域,已成为化学分析技术方面的一个热点,具有其他技术不可比拟的优势。 ICP-MS仪器(见图)由等离子体离子源、质谱仪及两者间的接口三部分组成。工作过程是样品由蠕动泵送入雾室,在常压和约7000K高温的ICP通道中被蒸发、原子化和电离,离子在加速电压作用下,经采样锥、截取锥,被加速、聚焦后进入质谱仪,不同质荷比离子选择性地通过四极杆,射到电子倍增器上,输出信号经前置放大器和多道分析器检测,由计算机进行数据处理,给出测定结果。
公开日期	2012-04-12
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27661]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	孙靖,沈怡文. ICP-MS分析技术及干扰问题[J]. 理化检验(化学分册),1998(7):318-319.
APA	孙靖,沈怡文.(1998).ICP-MS分析技术及干扰问题.理化检验(化学分册)(7),318-319.
MLA	孙靖,沈怡文."ICP-MS分析技术及干扰问题".理化检验(化学分册) .7(1998):318-319.