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	Raman Spectroscopy of Few-Quintuple Layer Topological Insulator Bi2Se3 Nanoplatelets
	Zhang, Jun; Peng, Zeping; Soni, Ajay; Zhao, Yanyuan; Xiong, Yi; Peng, Bo; Wang, Jianbo; Dresselhaus, Mildred S.; Xiong, Qihua
刊名	NANO LETTERS
	2011
卷号	11期号:6
关键词	Topological Insulators bismuth selenide Raman spectroscopy electron-phonon coupling phonon softening polyol synthesis
ISSN号	1530-6984
DOI	10.1021/nl200773n
URL标识	查看原文
收录类别	SCIE ; EI ; ESI高被引论文
语种	英语
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/4051946
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang, Jun,Peng, Zeping,Soni, Ajay,et al. Raman Spectroscopy of Few-Quintuple Layer Topological Insulator Bi2Se3 Nanoplatelets[J]. NANO LETTERS,2011,11(6).
APA	Zhang, Jun.,Peng, Zeping.,Soni, Ajay.,Zhao, Yanyuan.,Xiong, Yi.,...&Xiong, Qihua.(2011).Raman Spectroscopy of Few-Quintuple Layer Topological Insulator Bi2Se3 Nanoplatelets.NANO LETTERS,11(6).
MLA	Zhang, Jun,et al."Raman Spectroscopy of Few-Quintuple Layer Topological Insulator Bi2Se3 Nanoplatelets".NANO LETTERS 11.6(2011).

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