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掺锰氢氧化镍的结构与电化学性能(英文)
吴梅银,王建明,张鉴清,曹楚南
刊名物理化学学报
2005-05-15
期号5页码:523-527
关键词掺锰氢氧化镍 电化学性能 质子扩散系数
中文摘要采用化学共沉淀法制备了锰取代的氢氧化镍样品,应用X RD 技术对不同锰含量样品的相结构进行了表征,并用恒电流充放电、电流脉冲弛豫法和电化学阻抗技术研究了样品的电化学行为. X RD 结果显示:锰含量少于20%时,样品主要由β相组成;而当锰含量达到28.3% 时,可以得到具有纯α相结构的样品.电化学研究结果表明:掺锰的氢氧化镍样品具有优良的电化学循环稳定性;锰的掺杂提高了氢氧化镍电极的析氧电位,增大了样品的质子扩散系数;具有较低锰含量的氢氧化镍样品显示了较大的放电容量和较高的放电电位.
公开日期2012-04-12
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/25380]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
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GB/T 7714
吴梅银,王建明,张鉴清,曹楚南. 掺锰氢氧化镍的结构与电化学性能(英文)[J]. 物理化学学报,2005(5):523-527.
APA 吴梅银,王建明,张鉴清,曹楚南.(2005).掺锰氢氧化镍的结构与电化学性能(英文).物理化学学报(5),523-527.
MLA 吴梅银,王建明,张鉴清,曹楚南."掺锰氢氧化镍的结构与电化学性能(英文)".物理化学学报 .5(2005):523-527.
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