电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响

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	电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响
	张荣发 ; 单大勇 ; 陈荣石 ; 韩恩厚
刊名	中国有色金属学报
	2007-10-15
期号	10 页码:1574-1579
关键词	镁合金微弧氧化电参数厚度
中文摘要	在自行研制的电解液中,采用四因素三水平正交实验,系统研究频率、占空比、电流密度和终电压对AZ91HP镁合金氧化膜厚度的影响。结果表明,各因素的主次顺序为终电压>电流密度>占空比>频率。终电压对氧化膜厚度影响显著,电流密度对氧化膜厚度有影响但不显著,占空比和频率对氧化膜厚度无显著影响。氧化膜层的耐蚀性并不是仅仅由厚度决定,而是由多种因素综合作用的结果。
公开日期	2012-04-12
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/24604]
专题	金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	张荣发,单大勇,陈荣石,等. 电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响[J]. 中国有色金属学报,2007(10):1574-1579.
APA	张荣发,单大勇,陈荣石,&韩恩厚.(2007).电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响.中国有色金属学报(10),1574-1579.
MLA	张荣发,et al."电参数对镁合金微弧氧化膜厚度的影响".中国有色金属学报 .10(2007):1574-1579.