| 片状钽电容失效分析 | |
| 刘家欣; 肖大雏; 徐征 | |
| 刊名 | 电子工业专用设备
 |
| 2004 | |
| 期号 | 7 |
| ISSN号 | 1004-4507 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3955234 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘家欣,肖大雏,徐征. 片状钽电容失效分析[J]. 电子工业专用设备,2004(7). |
| APA | 刘家欣,肖大雏,&徐征.(2004).片状钽电容失效分析.电子工业专用设备(7). |
| MLA | 刘家欣,et al."片状钽电容失效分析".电子工业专用设备 .7(2004). |
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