金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究

	金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究
	王乃粒 ; 高培德 ; 刘洪霖 ; 陈念贻
刊名	应用科学学报
	1988
期号	03
ISSN号	0255-8297
中文摘要	<正>由于SIMS分析具有很高的表面检测灵敏度,可以检测超轻元素和用作同位素分析,特别是它能检测以电离态形式存在的靶材料的原子簇碎片,因而可比其它许多表面分析方法(诸如AES和XPS)更直接地提供有关这些离子碎片构型的信息.本文通过把对清洁的金属镁表面进行SIMS分析的实验结果,同我们用量子化学从头计算法对镁的某些原子簇离子的稳定性计算结果相比较,从实验和理论两方面探讨了金属镁在熔盐中的化学结构和形成原因,为熔盐-液体金属的相互溶解作用提供了有参考价值的信息.
语种	中文
公开日期	2012-03-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/106305]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所）
推荐引用方式 GB/T 7714	王乃粒,高培德,刘洪霖,等. 金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究[J]. 应用科学学报,1988(03).
APA	王乃粒,高培德,刘洪霖,&陈念贻.(1988).金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究.应用科学学报(03).
MLA	王乃粒,et al."金属镁原子簇离子碎片的二次离子质谱研究".应用科学学报 .03(1988).