感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质

	感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质
	朱锦方 ; 罗培卿
刊名	上海有色金属
	1980
期号	S1
ISSN号	1005-2046
中文摘要	<正> 感应耦合高频等离子体发射光谱法(ICP—AES)是一种多元素同时分析技术。以前,作者及其同事采用去溶装置曾得到较高的检出限。然而,当有大量基体元素共存时,一般都使用不去溶的气动雾化装置,这种装置不仅仍然具有较好的检出限,而且大大降低了第三元素和酸度的影
语种	中文
公开日期	2012-03-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105912]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所）
推荐引用方式 GB/T 7714	朱锦方,罗培卿. 感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质[J]. 上海有色金属,1980(S1).
APA	朱锦方,&罗培卿.(1980).感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质.上海有色金属(S1).
MLA	朱锦方,et al."感应耦合高频等离子体发射光谱法测定氧化镧中非稀土杂质".上海有色金属 .S1(1980).