多层结构磁光记录介质的优化设计

	多层结构磁光记录介质的优化设计
	唐九耀 ; 唐晋发 ; 沈德芳
刊名	激光与红外
	1988
期号	02
ISSN号	1001-5078
其他题名	T1 多层结构磁光记录介质的优化设计
中文摘要	本文提出了一种利用导纳特征矩阵计算多层结构磁光记录介质光学特性的方法。利用这种方法可方便地得到包含有一层或多层磁光薄膜的多层结构的反射率R,克尔角θ_k及椭圆度ε_k。此外,本文还构造了一个设计多层结构磁光记录介质的评价函数,并运用统计试验法对几种常见的多层结构进行了优化设计。
语种	中文
公开日期	2012-03-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/105760]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所）
推荐引用方式 GB/T 7714	唐九耀,唐晋发,沈德芳. 多层结构磁光记录介质的优化设计[J]. 激光与红外,1988(02).
APA	唐九耀,唐晋发,&沈德芳.(1988).多层结构磁光记录介质的优化设计.激光与红外(02).
MLA	唐九耀,et al."多层结构磁光记录介质的优化设计".激光与红外 .02(1988).