半导体激光器参数综合测量法及其应用 | |
肖宗耀 ; 陈莲勇 ; 忻慧芳 | |
刊名 | 中国激光
![]() |
1986 | |
期号 | 05 |
ISSN号 | 0258-7025 |
中文摘要 | 本文描述一种激光器参数综合测量方法和实验装置,不需移动待测样品,能测量光强-电流特性、近场和远场、激射光谱等激光器参数,以及对器件的结构、发光位置、腔面完整性等进行观察。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-03-29 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104420] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖宗耀,陈莲勇,忻慧芳. 半导体激光器参数综合测量法及其应用[J]. 中国激光,1986(05). |
APA | 肖宗耀,陈莲勇,&忻慧芳.(1986).半导体激光器参数综合测量法及其应用.中国激光(05). |
MLA | 肖宗耀,et al."半导体激光器参数综合测量法及其应用".中国激光 .05(1986). |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论