半导体激光器参数综合测量法及其应用

	半导体激光器参数综合测量法及其应用
	肖宗耀 ; 陈莲勇 ; 忻慧芳
刊名	中国激光
	1986
期号	05
ISSN号	0258-7025
中文摘要	本文描述一种激光器参数综合测量方法和实验装置,不需移动待测样品,能测量光强-电流特性、近场和远场、激射光谱等激光器参数,以及对器件的结构、发光位置、腔面完整性等进行观察。
语种	中文
公开日期	2012-03-29
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104420]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文（冶金所）
推荐引用方式 GB/T 7714	肖宗耀,陈莲勇,忻慧芳. 半导体激光器参数综合测量法及其应用[J]. 中国激光,1986(05).
APA	肖宗耀,陈莲勇,&忻慧芳.(1986).半导体激光器参数综合测量法及其应用.中国激光(05).
MLA	肖宗耀,et al."半导体激光器参数综合测量法及其应用".中国激光 .05(1986).