InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散 | |
李维旦 ; 潘慧珍 | |
刊名 | 电子科学学刊 |
1987 | |
期号 | 06 |
ISSN号 | 1009-5896 |
中文摘要 | 为了在InP/InGaAs(P)材料中进行精确的选择扩散,同时又要保证外延生长的多层异质结构不被破坏,提出了一种新的低温开管Zn扩散方法。该法直至在T=500℃,t=5min的条件下,重复性仍很好。应用该法研究了低温条件下Zn在InP,InGaAs(P)材料中的扩散行为。实验首次发现,Zn在InGaAsP材料中的扩散速率与材料中P含量的平方成正比。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-03-29 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104005] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李维旦,潘慧珍. InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散[J]. 电子科学学刊,1987(06). |
APA | 李维旦,&潘慧珍.(1987).InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散.电子科学学刊(06). |
MLA | 李维旦,et al."InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散".电子科学学刊 .06(1987). |
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