InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散
李维旦 ; 潘慧珍
刊名电子科学学刊
1987
期号06
ISSN号1009-5896
中文摘要为了在InP/InGaAs(P)材料中进行精确的选择扩散,同时又要保证外延生长的多层异质结构不被破坏,提出了一种新的低温开管Zn扩散方法。该法直至在T=500℃,t=5min的条件下,重复性仍很好。应用该法研究了低温条件下Zn在InP,InGaAs(P)材料中的扩散行为。实验首次发现,Zn在InGaAsP材料中的扩散速率与材料中P含量的平方成正比。
语种中文
公开日期2012-03-29
内容类型期刊论文
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/104005]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文(冶金所)
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GB/T 7714
李维旦,潘慧珍. InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散[J]. 电子科学学刊,1987(06).
APA 李维旦,&潘慧珍.(1987).InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散.电子科学学刊(06).
MLA 李维旦,et al."InP/InGaAs(P)材料中的低温开管Zn扩散".电子科学学刊 .06(1987).
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