Structural analysis of thick GaN films grown by hydride vapour phase epitaxy | |
Ruterana, P ; Chen, J ; Nouet, G ; Lei, BL ; Ye, HH ; Yu, GH ; Qi, M ; Li, AZ | |
刊名 | PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH |
2004 | |
卷号 | 241期号:12页码:2689-2692 |
关键词 | NITRIDATION SAPPHIRE |
ISSN号 | 0370-1972 |
通讯作者 | Ruterana, P, ENSICAEN, CNRS, UMR 6176, Lab Struct Interfaces & Fonctionnal Couches Mince, 6 Blvd Marechal Juin, F-14050 Caen, France |
学科主题 | Physics, Condensed Matter |
收录类别 | SCI |
语种 | 英语 |
公开日期 | 2012-03-24 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/95454] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_功能材料与器件_期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Ruterana, P,Chen, J,Nouet, G,et al. Structural analysis of thick GaN films grown by hydride vapour phase epitaxy[J]. PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH,2004,241(12):2689-2692. |
APA | Ruterana, P.,Chen, J.,Nouet, G.,Lei, BL.,Ye, HH.,...&Li, AZ.(2004).Structural analysis of thick GaN films grown by hydride vapour phase epitaxy.PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH,241(12),2689-2692. |
MLA | Ruterana, P,et al."Structural analysis of thick GaN films grown by hydride vapour phase epitaxy".PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC RESEARCH 241.12(2004):2689-2692. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论