| 片状钽电容器失效分析 | |
| 刘家欣; 肖大雏; 王宾如 | |
| 刊名 | 电子元件与材料
 |
| 2004 | |
| 卷号 | 23期号:3 |
| 关键词 | 钽电容器 |
| ISSN号 | 1001-2028 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 收录类别 | CSCD ; CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3771667 |
| 专题 | 武汉大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘家欣,肖大雏,王宾如. 片状钽电容器失效分析[J]. 电子元件与材料,2004,23(3). |
| APA | 刘家欣,肖大雏,&王宾如.(2004).片状钽电容器失效分析.电子元件与材料,23(3). |
| MLA | 刘家欣,et al."片状钽电容器失效分析".电子元件与材料 23.3(2004). |
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