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	Defects in ZnO thin films grown on ScAlMgO4 substrates probed by a monoenergetic positron beam
	Uedono, A.; Koida, T.; Tsukazaki, A.; Kawasaki, M.; Chen, Z.Q.; Chichibu, S.F.; Koinuma, H.
刊名	Journal of Applied Physics
	2003
卷号	93期号:5
ISSN号	0021-8979
DOI	10.1063/1.1539915
URL标识	查看原文
收录类别	EI
语种	英语
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3732716
专题	武汉大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Uedono, A.,Koida, T.,Tsukazaki, A.,et al. Defects in ZnO thin films grown on ScAlMgO4 substrates probed by a monoenergetic positron beam[J]. Journal of Applied Physics,2003,93(5).
APA	Uedono, A..,Koida, T..,Tsukazaki, A..,Kawasaki, M..,Chen, Z.Q..,...&Koinuma, H..(2003).Defects in ZnO thin films grown on ScAlMgO4 substrates probed by a monoenergetic positron beam.Journal of Applied Physics,93(5).
MLA	Uedono, A.,et al."Defects in ZnO thin films grown on ScAlMgO4 substrates probed by a monoenergetic positron beam".Journal of Applied Physics 93.5(2003).

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