化学镀金 | |
嵇永康 ; 胡培荣 ; 卫中领 | |
2007 | |
会议名称 | 2007年上海市电子电镀学术年会论文汇编 |
会议日期 | 2007 |
关键词 | 线路板 化学镀金 置换反应 氰化镀金液 添加剂 |
中文摘要 | 在电子学领域,半导体,线路板上进行化学镀金很难析出镀金层。所谓的化学镀金,都是镀金液和基础层基材的置换反应,或基础层的催化作用,析出金,仅能生成非常薄的金层。所以这种镀液的应用范围极其有限,必须采用自我催化反应进行析出.目前大量使用还原剂四氢化硼酸钾(硼氢化钾)或DMAB(二甲胺硼烷)的强碱性氰化镀金液。镀液组成如表1,不含稳定剂等添加剂的单纯镀液,对不纯物敏感、缺乏稳定性,金的析出速度慢等缺点使镀液的实用性受到很大限制。 本文介绍近年来,随电子元器件的小型化和高性能化,配线的微细化,封装技术的改良,线路 |
会议网址 | http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_6512834.aspx |
会议录 | 2007年上海市电子电镀学术年会论文汇编 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/56053] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 嵇永康,胡培荣,卫中领. 化学镀金[C]. 见:2007年上海市电子电镀学术年会论文汇编. 2007.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_6512834.aspx. |
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