注硅对SIMOX材料性能影响的研究 | |
贺威 ; 张正选 ; 田浩 ; 杨惠 ; 俞文杰 ; 王茹 ; 陈明 ; 王曦 | |
2007 | |
会议名称 | 第六届中国功能材料及其应用学术会议 |
会议日期 | 2007 |
关键词 | 离子注入 绝缘体上硅 辐射效应 注氧隔离 |
中文摘要 | 首先采用注硅的方法改进SIMOX(注氧隔离)SOI(绝缘体上硅)材料,对硅注入在SIMOX材料的绝缘埋层中形成的纳米硅团簇的条件和纳米团簇的结构进行了论述。并对埋层结构与抗辐射性能的机理进行了分析。最后,对利用注硅改进的SIMOX材料制备的MOSFET的辐射特性进行了报道. |
会议网址 | http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_6444348.aspx |
会议录 | 第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 会议论文 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/55510] |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_国内会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 贺威,张正选,田浩,等. 注硅对SIMOX材料性能影响的研究[C]. 见:第六届中国功能材料及其应用学术会议. 2007.http://d.wanfangdata.com.cn/Conference_6444348.aspx. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论