Annexin V/PI双标记检测高电压脉冲电场诱导K562细胞凋亡的研究 | |
段秀梅; 宋艳秋; 谭岩; 方艳秋; 许淑芬; 车媛媛; 吴威; 殷涌光 | |
刊名 | 中国免疫学杂志
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2008 | |
期号 | 2 |
关键词 | 高电压脉冲电场 K562细胞 淋巴细胞 凋亡 |
ISSN号 | 1000-484X |
URL标识 | 查看原文 |
语种 | 中文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3558220 |
专题 | 吉林大学白求恩第一医院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 段秀梅,宋艳秋,谭岩,等. Annexin V/PI双标记检测高电压脉冲电场诱导K562细胞凋亡的研究[J]. 中国免疫学杂志,2008(2). |
APA | 段秀梅.,宋艳秋.,谭岩.,方艳秋.,许淑芬.,...&殷涌光.(2008).Annexin V/PI双标记检测高电压脉冲电场诱导K562细胞凋亡的研究.中国免疫学杂志(2). |
MLA | 段秀梅,et al."Annexin V/PI双标记检测高电压脉冲电场诱导K562细胞凋亡的研究".中国免疫学杂志 .2(2008). |
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