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	A statistical approach to fit Gaussian part of full-energy peaks from Si（PIN） and SDD X-ray spectrometers
	LI Zhe; TUO XianGuo; SHI Rui; YANG JianBo
	2014
卷号	0页码:19-24
关键词	硅漂移探测器 X射线光谱仪 统计方法 SDD PIN 高斯型 能量峰 拟合方法
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3383907
专题	成都理工大学
作者单位	1.[1]Provincial Key Laboratory of Applied Nuclear Techniques in Geosciences, Chengdu University of Technology, Chengdu 610059, China 2.[2]Southwest University of Science and Technology, Mianyang 621010, China 3.[3]Institute of High Energy Physics Chinese Academy of Science, Beijing 100049, China
推荐引用方式 GB/T 7714	LI Zhe,TUO XianGuo,SHI Rui,等. A statistical approach to fit Gaussian part of full-energy peaks from Si（PIN） and SDD X-ray spectrometers[J],2014,0:19-24.
APA	LI Zhe,TUO XianGuo,SHI Rui,&YANG JianBo.(2014).A statistical approach to fit Gaussian part of full-energy peaks from Si（PIN） and SDD X-ray spectrometers.,0,19-24.
MLA	LI Zhe,et al."A statistical approach to fit Gaussian part of full-energy peaks from Si（PIN） and SDD X-ray spectrometers".0(2014):19-24.

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