超薄硅纳米谐振梁的制作及谐振特性的测量

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	超薄硅纳米谐振梁的制作及谐振特性的测量
	夏晓媛 ; 李昕欣 ; 王跃林 ; 李铁 ; 杨衡 ; 焦继伟
刊名	纳米技术与精密工程
	2008
期号	01
关键词	MEMS扫描微镜高速转动动态形变光学分辨率
ISSN号	1672-6030
中文摘要	利用氧化、光刻、刻蚀、溅射等传统MEMS加工工艺,在绝缘衬底上的硅(SOI)基片上制作出一种厚度只有50 nm的双端固支结构的硅纳米谐振梁;在实验室条件下,针对实验中谐振梁的结构特点,提出了静电激励与感生电动势检测(EMF)的测量方法,并利用专业的Conventorware MEMS仿真软件及ANSYS有限元分析软件,定量地给出合适的静电驱动电压,同时初步估算了梁谐振时将会产生的感生电动势的大小,并对此分析结果提出了相应的测试电路,为下一步对这种超薄纳米梁的实际测试工作提供了可行性的理论参考.
语种	中文
公开日期	2012-01-06
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/51585]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	夏晓媛,李昕欣,王跃林,等. 超薄硅纳米谐振梁的制作及谐振特性的测量[J]. 纳米技术与精密工程,2008(01).
APA	夏晓媛,李昕欣,王跃林,李铁,杨衡,&焦继伟.(2008).超薄硅纳米谐振梁的制作及谐振特性的测量.纳米技术与精密工程(01).
MLA	夏晓媛,et al."超薄硅纳米谐振梁的制作及谐振特性的测量".纳米技术与精密工程 .01(2008).