相位体制数模转换器动态参数的表征与测试

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	相位体制数模转换器动态参数的表征与测试
	张有涛 ; 夏冠群 ; 李拂晓 ; 高建峰
刊名	固体电子学研究与进展
	2006
期号	02
关键词	光电子学光电探测器暗电流分析温度特性零偏压下微分电阻与面积乘积
ISSN号	1000-3819
中文摘要	详细分析并讨论了相位体制数模转换器(DAC)动态参数的表征方法,提出用无杂散动态范围(SFDR)、近区谐波失真(TH D 6)、有效工作带宽(EW B)、输出信号功率及正交输出信号幅度一致性来全面描述相位DAC的频域性能。采用上述方法对利用南京电子器件研究所标准76 mm G aA sM ESFET全离子注入工艺流片得到的3b it相位DAC进行了频域测试。结果显示其EW B大于1.5 GH z,转换速率大于12 G bps,全频带内输出信号的正交精度低于4%,幅度一致性低于26%(大多数测试点低于10%
语种	中文
公开日期	2012-01-06
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/50935]
专题	上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式 GB/T 7714	张有涛,夏冠群,李拂晓,等. 相位体制数模转换器动态参数的表征与测试[J]. 固体电子学研究与进展,2006(02).
APA	张有涛,夏冠群,李拂晓,&高建峰.(2006).相位体制数模转换器动态参数的表征与测试.固体电子学研究与进展(02).
MLA	张有涛,et al."相位体制数模转换器动态参数的表征与测试".固体电子学研究与进展 .02(2006).