基于SOI材料的MOS电容器及其制作方法
程新红 ; 徐大伟 ; 王中健 ; 夏超 ; 曹铎 ; 宋朝瑞 ; 俞跃辉
2011-11-23
专利国别中国
专利号CN102254821A
专利类型发明
权利人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要本发明提供一种基于SOI材料的MOS电容器及其制作方法,该方法是提供一具有顶层、隐埋氧化层、衬底层的SOI基板,在该顶层上光刻出多个硅岛,在去除硅岛表面的光刻胶及自然氧化层后,在该顶层上生长高k栅介质层,刻蚀该高k栅介质层以形成多个分别堆叠于各该硅岛上的高k栅介质岛,然后在该硅岛及高k栅介质岛上沉积电极薄膜层;最后刻蚀该电极薄膜层,以形成多个上电极及下电极,且使上电极分别堆叠于各该高k栅介质岛上、下电极形成于硅岛的表面上,以便在SOI材料上验证高k栅介质电学特性时,测量上、下电极的电容-电压特性可以不用考
是否PCT专利
公开日期2011-11-23
申请日期2011-07-11
语种中文
专利申请号201110192523.7
专利代理李仪萍
内容类型专利
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49706]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
程新红,徐大伟,王中健,等. 基于SOI材料的MOS电容器及其制作方法. CN102254821A. 2011-11-23.
个性服务
查看访问统计
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。


©版权所有 ©2017 CSpace - Powered by CSpace