可抑制选通二极管之间串扰电流的相变存储器及制备方法 | |
李宜瑾 ; 宋志棠 ; 凌云 ; 张超 | |
2010-10-20 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN101866882A |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
中文摘要 | 本发明微电子技术领域,公开了可抑制选通二极管之间串扰电流的相变存储器的制备方法,其主要特征在于,在P型半导体衬底上形成重掺杂的N型半导体,在重掺杂的N型半导体上方形成一个本征半导体;对本征半导体有间隔的进行刻蚀形成多个位线方向隔离沟槽,将本征半导体分割形成多个选通二极管,并且刻蚀的位线方向隔离沟槽深入到重掺杂的N型半导体字线以内,在所述的沟槽内形成绝缘介质层;设置多个相变存储单元分别位于P型半导体的上方,并且分别与多个位线相连。本发明还揭露了一种可抑制选通二极管之间串扰电流的相变存储器,完全与CMOS工艺 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2010-10-20 |
申请日期 | 2010-04-29 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 201010166065.5 |
专利代理 | 李仪萍 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49462] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李宜瑾,宋志棠,凌云,等. 可抑制选通二极管之间串扰电流的相变存储器及制备方法. CN101866882A. 2010-10-20. |
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