一种制备混合晶向半导体衬底的方法
魏星 ; 王湘 ; 李显元 ; 张苗 ; 王曦 ; 林成鲁
2009-12-23
专利国别中国
专利号CN101609800
专利类型发明
权利人上海新傲科技股份有限公司 ; 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要一种制备混合晶向半导体衬底的方法,包括如下步骤:提供键合衬底,所 述键合衬底包括剥离层、第一半导体层以及腐蚀停止层;提供第二半导体支撑 衬底,所述第二半导体支撑衬底表面具有第二晶面;在第一半导体层或者第二 半导体支撑衬底表面形成媒介层,或者在第一半导体层和第二半导体支撑衬底 的表面均形成媒介层;将第二半导体支撑衬底与键合衬底键合;采用选择性腐 蚀工艺除去剥离层和腐蚀停止层;对键合后衬底进行退火。本发明的优点在于, 利用高温退火消除键合界面的由亲水键合导致的自然氧化层的办法,能够制备 出全局混合晶向体硅衬底
是否PCT专利
公开日期2009-12-23
申请日期2009-06-19
语种中文
专利申请号200910053504.9
专利代理翟 羽
内容类型专利
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/49145]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
魏星,王湘,李显元,等. 一种制备混合晶向半导体衬底的方法. CN101609800. 2009-12-23.
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