| 实时探测单电子自旋态的方法 | |
| 伍滨和 ; 曹俊诚 | |
| 2008-02-06 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN101118607 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及了一种实时探测单电子自旋态的方法。当量子点能级由于外 磁场而发生Zeeman分裂或与电极间的隧穿速率与自旋有关时，单个电子所 携带的自旋信息就与其通过该量子点时在量子点上的留滞时间联系起来。通 过设计合适的单电子探测器件并调节该器件的噪声水平，能够分辨出该电子 的自旋状态。预期该器件能够以较高的频率进行工作，所以能给出量子点上 自旋态的实时信息。该装置在量子信息处理等方面有重要的潜在应用。所需 要的条件完全能在当前实验条件下予以实现。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2008-02-06 |
| 申请日期 | 2007-09-07 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 200710045701.7 |
| 专利代理 | 潘振甦 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/48781]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 伍滨和,曹俊诚. 实时探测单电子自旋态的方法. CN101118607. 2008-02-06. |
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