一种基于SOI的ESD保护器件及其制作方法
程新红 ; 夏超 ; 王中健 ; 俞跃辉 ; 何大伟 ; 徐大伟
2011-09-28
专利国别中国
专利号CN102201404A
专利类型发明
权利人中国科学院上海微系统与信息技术研究所
中文摘要本发明公开了一种基于SOI的ESD保护器件及其制作方法。该ESD器件结构包括:SOI衬底,位于SOI衬底上的N阱区和P阱区,位于所述N阱区之上的阳极接触端以及位于所述P阱区之上的阴极接触端,其中,所述N阱区和P阱区之间形成横向的PN结,在所述PN结之上设有场氧区。本器件可以在ESD来临时,及时的泄放ESD电流,避免栅氧击穿或者大电流流入电路内部,造成电路损伤。可以通过调节器件参数来调整器件的触发电压和维持电压,使其可以用于不同内部电压的电路保护,避免功率局部集中。能够在HBM(人体模型)中实现抗ESD电压
是否PCT专利
公开日期2011-09-28
申请日期2011-05-16
语种中文
专利申请号201110124788.3
专利代理李仪萍
内容类型专利
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/48585]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
程新红,夏超,王中健,等. 一种基于SOI的ESD保护器件及其制作方法. CN102201404A. 2011-09-28.
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