中红外波段半导体激光器性能测量表征系统 | |
张永刚 ; 南矿军 ; 李爱珍 | |
2002-07-17 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN1358986 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
中文摘要 | 本发明涉及一种中红外波段半导体激光器性能测量表征系统,属于半导体测试技术领域。其特征是该硬件部分由5个部分组成,分别是傅里叶变换光谱仪并引入双调制技术的激射谱测量系统;基于宽范围脉冲信号发生器的驱动系统;基于数字示波器电流探头及中红外探测器的测量监控系统;基于通用平行接口卡的计算机控制系统;热沉致冷器和温度控制系统;软件部分的编程软件为CEC公司的TESTPOINT,并采用面向对象的编程方式。除具有测量器件的I-P,I-V特性和激射光谱特性的功能外,还可以宽范围地改变驱动脉冲参数对器件的输出特性以及热特性 |
是否PCT专利 | 是 |
公开日期 | 2002-07-17 |
申请日期 | 2001-11-23 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | 01132286.1 |
专利代理 | 潘振∴ |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/47869] ![]() |
专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张永刚,南矿军,李爱珍. 中红外波段半导体激光器性能测量表征系统. CN1358986. 2002-07-17. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论