Trapping effects in CdSiO3 : In3+ long afterglow phosphor | |
Kuang, JY; Liu, YL | |
2006 | |
卷号 | 23期号:[db:dc_citation_issue]页码:204 |
DOI | [db:dc_identifier_doi] |
URL标识 | 查看原文 |
WOS记录号 | [DB:DC_IDENTIFIER_WOSID] |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3339355 |
专题 | 暨南大学 |
作者单位 | [1]Jinan Univ, Dept Chem, Guangzhou 510632, Peoples R China |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Kuang, JY,Liu, YL. Trapping effects in CdSiO3 : In3+ long afterglow phosphor[J],2006,23([db:dc_citation_issue]):204. |
APA | Kuang, JY,&Liu, YL.(2006).Trapping effects in CdSiO3 : In3+ long afterglow phosphor.,23([db:dc_citation_issue]),204. |
MLA | Kuang, JY,et al."Trapping effects in CdSiO3 : In3+ long afterglow phosphor".23.[db:dc_citation_issue](2006):204. |
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