| 触头电接触性能测试装置及试验研究 | |
| 刘文涛; 荣命哲; 刘定新; 吴翊; 王小华 | |
| 刊名 | 低压电器
 |
| 2013 | |
| 期号 | [db:dc_citation_issue]页码:17-21 |
| 关键词 | 测试装置 触头电接触 试验研究 银基触头 |
| ISSN号 | 1001-5531 |
| DOI | [db:dc_identifier_doi] |
| URL标识 | 查看原文 |
| WOS记录号 | [db:dc_identifier_wosid] |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3312548 |
| 专题 | 西安交通大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘文涛,荣命哲,刘定新,等. 触头电接触性能测试装置及试验研究[J]. 低压电器,2013([db:dc_citation_issue]):17-21. |
| APA | 刘文涛,荣命哲,刘定新,吴翊,&王小华.(2013).触头电接触性能测试装置及试验研究.低压电器([db:dc_citation_issue]),17-21. |
| MLA | 刘文涛,et al."触头电接触性能测试装置及试验研究".低压电器 .[db:dc_citation_issue](2013):17-21. |
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