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	Improving Min-sum LDPC Decoding Throughput by Exploiting Intra-cell Bit Error Characteristic in MLC NAND Flash Memory
	Zhao, Wenzhe; Sun, Hongbin; Lv, Minjie; Dong, Guiqiang; Zheng, Nanning; Zhang, Tong
	2014
期号	[db:dc_citation_issue]
DOI	[db:dc_identifier_doi]
会议录	2014 30TH SYMPOSIUM ON MASSIVE STORAGE SYSTEMS AND TECHNOLOGIES (MSST)
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ISSN号	2160-195X
WOS记录号	[DB:DC_IDENTIFIER_WOSID]
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3296649
专题	西安交通大学
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhao, Wenzhe,Sun, Hongbin,Lv, Minjie,et al. Improving Min-sum LDPC Decoding Throughput by Exploiting Intra-cell Bit Error Characteristic in MLC NAND Flash Memory[C]. 见:.

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