CAV414在厚膜电容式微位移传感器测试系统中的应用

	CAV414在厚膜电容式微位移传感器测试系统中的应用
	熊剑平 ; 孔德义 ; 高理升 ; 马以武 ; 钱玉洁
刊名	仪表技术
	2010
期号	11
学科主题	仿生感知技术 ; 人机交互技术
公开日期	2011-12-07
内容类型	期刊论文
源URL	[http://ir.hfcas.ac.cn/handle/334002/4698]
专题	合肥物质科学研究院_中科院合肥智能机械研究所
推荐引用方式 GB/T 7714	熊剑平,孔德义,高理升,等. CAV414在厚膜电容式微位移传感器测试系统中的应用[J]. 仪表技术,2010(11).
APA	熊剑平,孔德义,高理升,马以武,&钱玉洁.(2010).CAV414在厚膜电容式微位移传感器测试系统中的应用.仪表技术(11).
MLA	熊剑平,et al."CAV414在厚膜电容式微位移传感器测试系统中的应用".仪表技术 .11(2010).