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	一种基于任意波形低频电源的铁磁元件铁芯损耗测量方法
	刘鑫; 梁仕斌; 王俊凯; 刘涛; 彭庆军; 王磊; 田庆生; 姚陈果
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内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3203225
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	刘鑫,梁仕斌,王俊凯,等. 一种基于任意波形低频电源的铁磁元件铁芯损耗测量方法.

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