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	500kV高压并联电抗器匝间绝缘缺陷模型
	颜冰; 邹德旭; 马仪; 钱国超; 王科; 徐肖伟; 李剑; 王飞鹏; 冉合欢
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内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3202206
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	颜冰,邹德旭,马仪,等. 500kV高压并联电抗器匝间绝缘缺陷模型.

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