QQ客服 官方微博 反馈留言

	原位溅射型单次试开密码鉴别电路 In-situ sputtering type single-try discriminator circuit
	王宇航[1,4]; 高杨[2,3]; 韩宾[1]; 贾乐[1]
	2016
卷号	28页码:128-132
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3197546
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	王宇航[1,4],高杨[2,3],韩宾[1],等. 原位溅射型单次试开密码鉴别电路 In-situ sputtering type single-try discriminator circuit[J],2016,28:128-132.
APA	王宇航[1,4],高杨[2,3],韩宾[1],&贾乐[1].(2016).原位溅射型单次试开密码鉴别电路 In-situ sputtering type single-try discriminator circuit.,28,128-132.
MLA	王宇航[1,4],et al."原位溅射型单次试开密码鉴别电路 In-situ sputtering type single-try discriminator circuit".28(2016):128-132.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。