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	用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC＇s
	冯筱佳[1,2]; 刘玉奎[2,3]; 朱坤峰[2,4]
	2010
卷号	40页码:140-144
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3189520
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	冯筱佳[1,2],刘玉奎[2,3],朱坤峰[2,4]. 用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC＇s[J],2010,40:140-144.
APA	冯筱佳[1,2],刘玉奎[2,3],&朱坤峰[2,4].(2010).用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC＇s.,40,140-144.
MLA	冯筱佳[1,2],et al."用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC＇s".40(2010):140-144.

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