用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC's | |
冯筱佳[1,2]; 刘玉奎[2,3]; 朱坤峰[2,4] | |
2010 | |
卷号 | 40页码:140-144 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3189520 |
专题 | 重庆大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯筱佳[1,2],刘玉奎[2,3],朱坤峰[2,4]. 用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC's[J],2010,40:140-144. |
APA | 冯筱佳[1,2],刘玉奎[2,3],&朱坤峰[2,4].(2010).用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC's.,40,140-144. |
MLA | 冯筱佳[1,2],et al."用于双极电路ESD保护的SCR结构设计失效分析 Failure Analysis of SCR Structure for ESD Protection of Bipolar IC's".40(2010):140-144. |
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