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	内部导体结构对GIS母线损耗发热的影响 Influences of the internal conductor structure to the loss and heat of GIS bus bar
	范镇南[1]; 罗永刚[1]; 赵斌[1,2]; 张德威[1]; 陈显坡[1]; 杨皓麟[3]
	2011
卷号	15页码:22-27
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3184418
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	范镇南[1],罗永刚[1],赵斌[1,2],等. 内部导体结构对GIS母线损耗发热的影响 Influences of the internal conductor structure to the loss and heat of GIS bus bar[J],2011,15:22-27.
APA	范镇南[1],罗永刚[1],赵斌[1,2],张德威[1],陈显坡[1],&杨皓麟[3].(2011).内部导体结构对GIS母线损耗发热的影响 Influences of the internal conductor structure to the loss and heat of GIS bus bar.,15,22-27.
MLA	范镇南[1],et al."内部导体结构对GIS母线损耗发热的影响 Influences of the internal conductor structure to the loss and heat of GIS bus bar".15(2011):22-27.

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