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	IGBT快速功率循环老化试验装置的设计
	刘洪纪[1]; 张晏铭[1]; 吴宇[1]; 龚灿[1]; 杨友耕[1]; 杜雄[1]; 孙鹏菊[1]; 周雒维[1]
会议日期	2015-4-18
会议地点	北京
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/3095960
专题	重庆大学
推荐引用方式 GB/T 7714	刘洪纪[1],张晏铭[1],吴宇[1],等. IGBT快速功率循环老化试验装置的设计[C]. 见:. 北京. 2015-4-18.

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